UV-VIS是测材料的透射，反射和吸收的仪器，通过测出的透射或者吸收谱就能拟合出该材料的禁带宽度。而荧光光谱是电致发光光谱，常用来看缺陷。
PL光谱是光致发光，是通过一定波长的光来激发材料，使其光致发光，原理是形成的光生电子和空穴再次复合从而发出荧光，所以一定程度上其吸收峰的波长和紫外差不多，但是吸收峰的强度说明电子空穴复合率，晶格缺陷越多（结晶度越差），峰高越高（复合率越多）
PLE对应的是PL，PL显示样品对激发波长在紫外可见范围内的响应情况，理论上如果样品发射峰在580nm，以580nm检测，测PLE，如果最大峰在350，就说明以350激发该样品时，产生的峰，强度最高。通常是PLE和PL相互来确定的。
